Ada banyak aplikasi dalam analisa mikroplastik yang menarik untuk dibahas. Mikro partikel dapat muncul sebagai kontaminasi dari produk-produk seperti produk farmasi dan produk elektronik atau bisa sebagai polusi udara. Selain itu mikro partikel bisa juga sebagai komponen penyusun dari sebuah produk seperti halnya polimer dan pembersih. Dalam beberapa kasus kita tidak bisa memperoleh beberapa material dalam jumlah besar namun kita perlu melakukan pengukuran secara individual. FT – IR microscopy adalah teknik yang pas untuk diterapkan dalam kasus-kasus seperti ini dimana sangat cocok dalam menentukan identitas dari komponen-konponen kimia sebuah produk dengan jumlah sample yang sedikit.
Dengan FT-IR microscopy sangat memungkinkan dalam mengukur IR-Spektra keseluruhan dari sebuah sampel dengan resolusi yang sangat tinggi sekalipun multi komponen yang kompleks. Satu mikro partikel ( single micro particle ) yang tidak bisa diukur dengan teknik analisa biasa bisa diukur dengan FT-IR microscopy. Pengukuran FT-IR juga disebut sebagai analisa nondrestructive, yaitu analisa yang tidak merusak sample dan memungkinkan untuk dipakai kembali untuk analisa lain.
Salah satu rekomendasi FT-IR microscopy yang memiliki design kualitas dan keakuratan hasil yang bagus adalah FT – IR LUMOS. Alat ini keluaran dari perusahaan jerman Bruker yang berpengalaman dalam teknologi infra merah berpuluh puluh tahun lamanya. Jika dalam Analisa menggunakan instrumentasi tentulah kita harus mencari instrument yang less maintenance, software yang userfriendly, ringkas, dan hasil dengan keakuratan yang tinggi. Di LUMOS kita bisa menemukan semua itu.
Contoh aplikasi mikroplastik
- Pengukuran Kontaminasi dari sample farmasi cair
Produk-produk farmasi harus diproduksi semurni mungkin dan impurity / pengotor harus diukur secara menyeluruh. Ini guna menemukan identitas pengotor kemudian dibuang untuk menghasilkan produk yang murni. Sebagai contoh, pengotor disaring dari sampel menggunakan gold-filter dengan ukuran 5 µm. Setelah residuenya dikeringkan langsung diuji dengan substrat berlapis emas dari LUMOS II FT-IR Microscope.
Dari gambar dibawah dapat dilihat, titik-tik hitam kecil terutama disebelah kanan adalah pori -pori filter. Sementara partikel-partikel hitam serta serat adalah residue. Sampel dianalisa dengan mode ATR dengan resolusi 4 cm-1 dan hasilnya menunjukkan ada 3 spot bewarna merah, biru, biru terang.
Dari hasil pengukuran dapat dilihat 2 spektra diatas menunjukkan perbedaan yang jelas. Dengan menggunakan library atau database di LUMOS dapat diindentifikasi spektra pertama adalah cellulose dan spectra kedua adalah Talcum (dapat dilihat gambar dibawah). Untuk spektra ke 3 sangat mirip dengan spectra ke dua, terlebih band di area 1600 cm-1 (ciri khas area amida).
Komponen utama dari spektrum ke 3 jika dibandingkan dengan spektrum ke 2 tentunya sama yaitu Talcum. Band amida kemungkinan berasal dari polimer polyamida atau wol. Dengan informasi ini kita bisa dengan mudah menentukan sumber lokasi kontaminan.
- Cacat Mikropartikel didalam struktur multilayer
Contoh kedua adalah inklusi mikropartikel didalam pernis akrilik multilayer. Inklusi ini memiliki diameter 22 µm dan sulit dibedakan dengan material jika dilihat secara visual. Untuk memvisualisasikan partikel dan untuk mapping informasi tentang sifat kimianya, pemetaan inklusi dilakukan dengan grid 7 x 7. Dengan masing – masing grid sel dengan bukaan 12 x 12 µm.
Untuk melihat jenis bahan inklusi ini, maka dapat dilihat pada library atau database dari LUMOS, dan hasilnya menunjukkan bahwa partikel tersebut berjenis poliamida.
Baca juga: Mengenal Mikroskop Cahaya
Dengan metode FT-IR microscopy analisa rutin mikropartikel dapat dilakukan dengan cepat. FT-IR microscopy juga bisa mengukur hampir semua jenis partikel yang berbeda. Teknologi chemical imaging memungkin untuk memvisualisasikan dan menganalisa area yang lebih luas, terutama penggunaan FT -IR microscopy LUMOS yang ideal dan nyaman.
